手機(jī)整機(jī)可靠性測(cè)試的試驗(yàn)項(xiàng)目以及相關(guān)測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)
隨著科技的發(fā)展,手機(jī)更新?lián)Q代的非???,手機(jī)做為人們?nèi)粘I畈豢扇鄙俚耐ㄐ殴ぞ?,在向市?chǎng)上大量出售前,需要做整機(jī)可靠性測(cè)試,以全方位保障手機(jī)的品質(zhì)與人們的使用安全。那么手機(jī)整機(jī)可靠性測(cè)試需要做哪些項(xiàng)目呢?下面劍喬儀器小編為大家仔細(xì)講解下手機(jī)整機(jī)可靠性測(cè)試的試驗(yàn)項(xiàng)目以及相關(guān)測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)。
一:手機(jī)整機(jī)環(huán)境可靠性測(cè)試
由于手機(jī)是移動(dòng)設(shè)備,這就決定了它隨時(shí)會(huì)面臨冬天的嚴(yán)寒與靜電,夏季的酷暑與潮濕,而高低溫環(huán)境測(cè)試就是為了避免手機(jī)產(chǎn)生嚴(yán)重失效現(xiàn)象而進(jìn)行的測(cè)試。最為容易想象的就是高低溫環(huán)境測(cè)試,它會(huì)給予手機(jī)一個(gè)初始測(cè)試狀態(tài)如待機(jī)、關(guān)機(jī)或者充電,定時(shí)檢查手機(jī)在測(cè)試中的狀況。
1)高低溫環(huán)境測(cè)試
高低溫試驗(yàn)是高溫試驗(yàn)和低溫試驗(yàn)的的簡(jiǎn)稱,試驗(yàn)?zāi)康氖窃u(píng)價(jià)高低溫條件對(duì)裝備在存儲(chǔ)和工作期間的性能影響。高低溫試驗(yàn)的試驗(yàn)條件、試驗(yàn)實(shí)施、試驗(yàn)步驟在GJB 150.3A一2009《軍用裝備試驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法高溫試驗(yàn)》與GJB 150.4A—2009《軍用裝備試驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法低溫試驗(yàn)》中都有詳細(xì)的規(guī)定。
2)鹽霧測(cè)試
鹽霧箱條件: 5+1%NaCl溶液, 6,5<pH<7.2 ,T=+35+2°C,濕熱箱條件:+40+2°,93+3%RH,持續(xù)時(shí)間48H。
3)ESD測(cè)試
手機(jī)在接充電器和不接充電器的情況下,分別測(cè)試手機(jī)在常用使用狀態(tài)下的ESD 性能,待機(jī)和通話狀態(tài)是必須要測(cè)試的狀態(tài)。
接觸放電為±6KV,對(duì)裸露的金屬件(如導(dǎo)電裝飾圈、裝飾牌不同的位置)、水平耦合板、垂直耦合板連續(xù)放電各 10次后對(duì)地放電,要求:LCD 顯示和通話狀況應(yīng)良好,應(yīng)無(wú)數(shù)據(jù)丟失和功能損壞等;接觸放電每點(diǎn)每個(gè)測(cè)試電壓連續(xù)放電 10次(加嚴(yán)測(cè)試±20 次)。
空氣放電±10K,對(duì)翻蓋底殼/面殼、大小LCD四周、接縫、受話器、免提接口、I/O口、主機(jī)按鍵及主機(jī)底殼等處進(jìn)行放電,被選點(diǎn)每點(diǎn)每個(gè)測(cè)試電壓放電10 次(加嚴(yán)測(cè)試±20 次),每放電一次需對(duì)地放電,要求LCD顯示和通話狀況應(yīng)良好,應(yīng)無(wú)數(shù)據(jù)丟失和功能損壞。
完成后作好記錄。所需手機(jī)數(shù)為2 部。
外置天線 ESD 測(cè)試要求:天線電鍍裝飾要求測(cè)試接觸放電±8KV,空氣放電±15KV,不允許出現(xiàn)破壞性問(wèn)題(出現(xiàn)重啟或重裝電池不可恢復(fù)的問(wèn)題)
參考標(biāo)準(zhǔn):
GB/T 17626.2 1998 idt IEC-61000-4-2 1995 電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)靜電放電抗擾度試驗(yàn)
YD/T 1539-2006移動(dòng)通信手持機(jī)可靠性技術(shù)要求和測(cè)試方法。
4)極限溫度充電測(cè)試
5)溫升測(cè)試
二、手機(jī)整機(jī)機(jī)械類可靠性測(cè)試
這類測(cè)試大多數(shù)屬于破壞性的測(cè)試,我們可以理解成測(cè)試產(chǎn)品的一個(gè)極限狀態(tài)。簡(jiǎn)單的說(shuō)就是看看產(chǎn)品的可靠度,比如10厘米的微跌測(cè)試,對(duì)手機(jī)的正面和反面各微跌200次,手機(jī)LCD不能出現(xiàn)白點(diǎn)或者白斑,TP滑動(dòng)功能全領(lǐng)域有效,如果測(cè)試通過(guò)我們認(rèn)為該產(chǎn)品在這方面具備可靠度。
1)跌落測(cè)試
分定向跌落、自由跌落、重復(fù)跌落、滾筒跌落四種跌落方式。
試驗(yàn)樣機(jī)插SIM 卡,并裝配電池,手機(jī)處于正常工作狀態(tài)。將樣品放置在垂直跌落試驗(yàn)儀上,將高度調(diào)到 1.0m ,進(jìn)行垂直跌落測(cè)試。每個(gè)面各測(cè) 2 次,共跌落12 次。跌落測(cè)試后,首先對(duì)樣品進(jìn)行外觀、功能,結(jié)構(gòu)檢測(cè),記錄測(cè)試狀態(tài)后,再進(jìn)行拆機(jī)檢測(cè)。
試驗(yàn)樣機(jī)插SIM 卡,并裝配電池,手機(jī)處于正常工作狀態(tài)。 將樣品放置在 0.5m 的滾筒跌落試驗(yàn)機(jī)中,進(jìn)行跌落測(cè)試,每 50 次對(duì)手機(jī)的外觀,功能,結(jié)構(gòu)做檢測(cè),累計(jì)跌落300 次循環(huán)。 測(cè)試完成后,對(duì)手機(jī)進(jìn)行功能,結(jié)構(gòu),裝配檢測(cè)(要求必須拆機(jī)檢查)。
2)軟壓測(cè)試
將手機(jī)正面朝上,放置在支撐部件的中心位置上,樣品處于開(kāi)機(jī)狀態(tài)并鎖住鍵盤。彈性擠壓頭以 25kg 的力、每分鐘 15~30 次的頻率擠壓樣品中間部位1000次,分別在400、600、800、1000 次進(jìn)行外觀檢查和話音通信檢查,外觀、功能應(yīng)正常,話音通信應(yīng)能正常進(jìn)行。測(cè)試結(jié)束后進(jìn)行功能、外觀及裝配檢測(cè)應(yīng)無(wú)異常。
3)硬壓測(cè)試
4)小球沖擊
5)水波紋測(cè)試
6)USB/耳機(jī)接口推力測(cè)試
7)正弦振動(dòng)測(cè)試
振動(dòng)頻率: 10 ~ 500Hz ASD(加速度頻譜密度):0.96m2/S3 持續(xù)時(shí)間: 每方向1小時(shí)(x,y,z三個(gè)方向)。 試驗(yàn)過(guò)程中檢查手機(jī)有無(wú)掉卡、關(guān)機(jī)等不良現(xiàn)象,測(cè)試結(jié)束后功能檢查應(yīng)無(wú)異常。
8)沙塵實(shí)驗(yàn)
9)包裝振動(dòng)
三、手機(jī)整機(jī)壽命類測(cè)試
實(shí)際研制過(guò)程中,壽命測(cè)試一般為加速壽命測(cè)試,以便縮短測(cè)試周期,降低生產(chǎn)成本,讓產(chǎn)品在短時(shí)間內(nèi)盡可能暴露產(chǎn)品的缺陷,評(píng)估產(chǎn)品的穩(wěn)定性。
1)SIM/T卡/內(nèi)存卡接入和拔出測(cè)試
插入SIM 卡再取出,累計(jì)1000 次。每插拔50 次開(kāi)機(jī)檢查一次,手機(jī)不能有不識(shí)卡現(xiàn)象,測(cè)試完畢手機(jī)功能應(yīng)正常。
插入內(nèi)存卡再取出,累計(jì) 1000 次。不支持熱插拔的機(jī)型,每插拔 100 次開(kāi)機(jī)檢查一次,支持熱插拔的機(jī)型必須在開(kāi)機(jī)狀態(tài)下測(cè)試,每插拔 100 次檢查一次,要求測(cè)試后存儲(chǔ)卡結(jié)構(gòu)正常(不能破裂),手機(jī)無(wú)不識(shí)卡問(wèn)題,內(nèi)存卡中的內(nèi)容不可丟失。
2)USBUSB/耳機(jī)接口接入和拔出測(cè)試
將耳機(jī)垂直插入耳機(jī)孔后,再垂直拔出,如此反復(fù),累計(jì) 3000 次。功能應(yīng)正常。
插入數(shù)據(jù)線再拔下,累計(jì)3000次。每插拔100次開(kāi)機(jī)檢查一次,手機(jī)功能應(yīng)正常。
3)按鍵測(cè)試
以 40~60 次/分鐘的速度,不小于 10N 的力度均勻按鍵,Dome:15 萬(wàn)次以上;Switch:10 萬(wàn)次;多維導(dǎo)航鍵:6 萬(wàn)次。每2萬(wàn)次檢查1次。Slide:1.5 萬(wàn)次;試驗(yàn)后功能應(yīng)正常。
4)觸摸屏點(diǎn)擊測(cè)試
將手機(jī)固定在點(diǎn)擊測(cè)試儀器上, 用固定在尖端的隨機(jī)手寫筆,加載 150g 的力,對(duì)觸摸屏點(diǎn)擊25 萬(wàn)次, 每5 萬(wàn)次對(duì)屏幕進(jìn)行檢查并清潔;手機(jī)處于待機(jī)狀態(tài);測(cè)試完畢后,觸摸屏表面無(wú)損傷,功能正常。點(diǎn)擊速率:約1 次/秒
5)觸摸屏劃線測(cè)試
將手機(jī)固定在劃線測(cè)試儀器上, 用手機(jī)自帶的手寫筆沿觸摸屏的對(duì)角線進(jìn)行劃線測(cè)試,劃線壓力為150g 力, 測(cè)試次數(shù)10 萬(wàn)次 (反復(fù)來(lái)回為 2 次),每1 萬(wàn)次對(duì)觸摸屏功能、結(jié)構(gòu)和外觀進(jìn)行檢測(cè),并對(duì)觸摸屏進(jìn)行清潔。測(cè)試結(jié)束后,觸摸屏功能應(yīng)正常,外觀無(wú)損傷(劃痕)。 (劃線速度:約30mm/秒)
6)聽(tīng)筒壽命測(cè)試
使用0.035W, PINK 20Hz-20KHz的120小時(shí)內(nèi)無(wú)異常現(xiàn)象。
7)馬達(dá)測(cè)試
8)揚(yáng)聲器測(cè)試
9)受話器測(cè)試
四、手機(jī)整機(jī)表面處理類測(cè)試
1)紙帶/羊毛氈耐磨測(cè)試
使用多功能耐磨儀器,羊毛氈,施加 1000g 的力,在產(chǎn)品表面(有表面處理工藝)以 40 次/分鐘~60 次/分鐘的速度,以 30mm 左右的行程,在樣本表面來(lái)回磨擦,測(cè)試 2000 次(1000 個(gè)循環(huán))后 觀察外觀。
2)硬度測(cè)試
觸摸屏硬度測(cè)試,用三菱牌 2H 鉛筆劃產(chǎn)品表面,在 45°的角度,以 500g的力度在被測(cè)殼表面劃兩筆劃刻后用橡皮擦試后檢查應(yīng)無(wú)明顯劃痕。
3)噴涂百格測(cè)試
4)耐醇性測(cè)試
5)化妝品測(cè)試
6)耐壓測(cè)試
7)振動(dòng)耐磨測(cè)試。
五、手機(jī)整機(jī)三防測(cè)試
區(qū)別于傳統(tǒng)的三防“防霉菌、防潮濕、防鹽霧”,手機(jī)整機(jī)的三防測(cè)試主要為防塵、防水、防跌落震動(dòng)測(cè)試。
如防塵可靠性測(cè)試,將手機(jī)放置在粉塵試驗(yàn)箱內(nèi), 樣品體積綜合不得超過(guò)試驗(yàn)箱有效空間的 1/3,底面積不得超過(guò)有效水平在積的 1/2;與實(shí)驗(yàn)箱內(nèi)壁距離應(yīng)不小于 100mm。啟動(dòng)粉塵試驗(yàn)箱,使氣流能夠?qū)⒒覊m均勻緩慢地沉降在試驗(yàn)樣品上,最大值不得超過(guò) 2m/s。測(cè)試時(shí)間到后,將手機(jī)在粉塵箱內(nèi)靜置 2H,進(jìn)行功能、外觀及裝配檢測(cè)。
六、 國(guó)內(nèi)手機(jī)可靠性測(cè)試方面的主要標(biāo)準(zhǔn)
1)GB/T 15844.2-1995 移動(dòng)通信調(diào)頻無(wú)線電話機(jī)環(huán)境要求和試驗(yàn)方法。
2)YD/T1215 900/1800MHz TDMA數(shù)字蜂窩移動(dòng)一動(dòng)通信網(wǎng)通用分組無(wú)限業(yè)務(wù)設(shè)備測(cè)試方法:移動(dòng)臺(tái)。
3)GB/T 15844.3-1995 移動(dòng)通信調(diào)頻無(wú)線電話機(jī)可靠性要求和試驗(yàn)方法。
4)YD/T 965-1998 電信終端設(shè)備的安全要求和試驗(yàn)方法。
5)YD 1032-2000 900/1800MHz TDMA 數(shù)字900/1800MHz TDMA 數(shù)字蜂窩移動(dòng)通信系統(tǒng)電磁兼容性限值和測(cè)量方法 第一部分:移動(dòng)臺(tái)及其輔助設(shè)備。
對(duì)手機(jī)整機(jī)進(jìn)行可靠性測(cè)試,需要對(duì)測(cè)試過(guò)程的失效現(xiàn)象進(jìn)行分析,因此在測(cè)試過(guò)程中應(yīng)把手機(jī)的失效現(xiàn)象準(zhǔn)確詳細(xì)的描述出來(lái)十分重要,從而才能便于后續(xù)分析、改進(jìn)設(shè)計(jì),為提高手機(jī)可靠性、耐久性。更多詳細(xì)資料歡迎咨詢廣東劍喬【劍喬儀器】廠家 官網(wǎng):www.fryr123.com
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